S-0-UT-3.7-G

0.05Inch Centerline Spacing Spring Contact Probe 4 Point Tapered Crown Tip

S-0-UT-3.7-G

参数	值
型号编码	S-0-UT-3.7-G
说明	0.05Inch Centerline Spacing Spring Contact Probe 4 Point Tapered Crown Tip
品牌	Interconnect Devices,IDI
封装	-

联系方式

分类	型号
	S-0-J-3.7-G
	S-0-J-2.5-G
	S-1-A-6.6-G
	S-0-H-3.7-G
	S-0-A-3.7-G
	R-0-CR R-SS-50-CR PLTD
测试仪器 >	S-1-B-2-G
测试探头、导线与夹子 >	S-1-H-2-G
测试探头、导线与夹子 >	S-0-B9-2.2-G
	S-1-B-6.6-G
	S-0-B-2.5-G
	S-0-B-3.7-G
测试仪器 >	S-3-B-4-G
测试仪器 >	S-5-F-16.4-G
连接器与适配器 >	S-4-F-5-G
测试探头、导线与夹子 >	S-4-H-5-G
测试仪器 >	S-2-F-4-G
测试探头、导线与夹子 >	S-5-H-8-G
测试仪器 >	S-4-H-7-G
测试仪器 >	R-3-WW-429
测试探头、导线与夹子 >	S-3-A-7-G
测试仪器 >	S-2-D-4-G
测试仪器 >	S-2-A-7-G
测试仪器 >	R-2-WW-429
	S-3-H-4-G
	S-3-J-4-G
	R-4-SC
	S-0-J-2.2-G
	CG-2.5-6-SC
测试探头、导线与夹子 >	CP-2.5-6-SC
测试探头、导线与夹子 >	S-100-SP-6.7-G-S
测试仪器 >	S-100-SP-8-G-S
测试探头、导线与夹子 >	RX-100-SC
测试探头、导线与夹子 >	S-100-A-6.7-G
测试探头、导线与夹子 >	S-075-SP-5-G-S
测试仪器 >	S-0-U-3.7-G
测试探头、导线与夹子 >	ICT-50C-B-4.3-DG-S
测试探头、导线与夹子 >	S-1-J-2-G
测试仪器 >	100671-000
	S-1-H-6.6-G

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